Glossaire
Ce paramètre essaie d’indiquer à quel point le système est en mesure d’ « auto-surveiller » un éventuel dysfonctionnement. En fonction du pourcentage de défaillances dangereuses détectables par le système, on aura une couverture du diagnostic plus ou moins bonne. Le paramètre numérique DC est une valeur en pourcent qui est calculée à travers des valeurs données dans un tableau (annexe E de la norme EN ISO 13849[1} {2]1) en fonction des précautions adoptées par le fabricant pour détecter les anomalies de son circuit. Comme en général il existe plusieurs précautions dans le même circuit pour détecter différentes anomalies, à la fin on calcule une valeur moyenne ou DCavg qui sera répartie dans les quatre groupes suivants :
- Élevée : DCavg≥ 99%
- Moyenne : 90% ≤ DCavg<99%
- Faible : 60% ≤ DCavg<90%
- Nulle : DCavg < 60%
La couverture du diagnostic nulle est admise seulement pour les systèmes avec architecture B ou 1.
Sa fonction est donc celle d’assurer aux autorités publiques des pays communautaires que les obligations législatives sont satisfaites.
Ce paramètre essaie de définir la bonne qualité des composants du système en définissant la durée de vie moyenne avant la défaillance dangereuse (noter qu’il ne s’agit pas de défaillance générale) exprimée en années. En pratique, le calcul du MTTFD se base sur des valeurs numériques fournies par les constructeurs de chaque composant formant le système. En l’absence de données, la norme fournit des valeurs dans des tableaux de référence spéciaux (annexe C de la norme EN ISO 13849. Le comptage portera à une valeur numérique qui rentrera dans trois catégories : Élevé, Moyen ou Faible.

Dans le cas de composants sensibles à l’usure (typiquement dispositifs mécaniques ou hydrauliques), le constructeur du composant fournira, plutôt que le MTTFD du composant, la valeur B10D du composant c’est-à-dire le nombre de cycles du composant dans lequel 10% des prototypes testés présentent une défaillance dangereuse.
La valeur B10D du composant doit être convertie par le constructeur de la machine en MTTFD par la formule :

Où nop= nombre moyen de manœuvres par an du composant.
En supposant la fréquence d’utilisation quotidienne et le nombre d’heures de service par jour de la machine, il est possible d'obtenir nop à partir de :

Où
dop = nombre moyen de jours de service par an
hop = nombre moyen d’heures de service par jour
tciclo = temps cycle (s)
On peut noter donc que le paramètre MTTFD, quand il est obtenu à partir d’un composant sujet à l’usure, ne dépend pas seulement du composant même, mais aussi de l’application.
Un dispositif électromécanique avec basse fréquence d’utilisation, tel qu’un télérupteur utilisé seulement pour les arrêts d’urgence, aura généralement un MTTFD élevé ; mais si le même dispositif est également utilisé pour les manœuvres de cycle normales, alors le MTTFD du même télérupteur, avec un temps de cycle court, pourrait diminuer considérablement.
Tous les éléments du circuit de contrôle, en fonction de sa structure, contribuent au calcul du MTTFD de ce dernier.
Dans les circuits avec une architecture à un canal (comme dans le cas des catégories B, 1 et 2), la contribution de chaque composant est linéaire et le calcul du MTTFD du canal est obtenu à partir de:

Pour éviter des interprétations trop optimistes la valeur maximale de MTTFD de chaque canal est limitée à 100 ans (pour les catégories B, 1, 2 et 3) ou 2500 ans (catégorie 4). Ne sont pas permis canaux avec un MTTFD inferieur à 3 ans. Dans le cas des systèmes à deux canaux (catégories 3 et 4) le calcul du MTTFD du circuit est obtenu par la symétrisation des MTTFD des deux canaux en utilisant la formule :



- Système de catégorie 3 avec composants peu fiables (MTTFD=faible) et DC moyenne.
- Système de catégorie 3 avec composants fiables (MTTFD=moyen) e DC faible.
- Système de catégorie 2 avec composants fiables (MTTFD=moyen) e DC moyenne.
- Système de catégorie 2 avec composants fiables (MTTFD=moyen) e DC faible.
- Système de catégorie 1 avec composants très fiables (MTTFD=élevé).

En même temps la figure, choisi une structure de circuit, permet de voir immédiatement les maximum PL réalisables en fonction de la couverture du diagnostic moyenne et du MTTFD des composants.
Le constructeur peut donc exclure a priori certaines structures de circuit car inappropriées au PLr requis.
Cependant en général, pour d’identifier le PL du système, on ne se réfère pas à la figure en question puisque dans de nombreux cas, les zones du graphique se superposent aux lignes de la marge des différentes PL. Au lieu de cela, on utilise le tableau dans l’annexe K de l’EN ISO 13849 pour une détermination précise du PL du circuit.
Ente Nazionale Italiano di Unificazione (IT)
Underwriter’s Laboratories (USA)






























